Objetivo zoom ZEISS Discovery.
En comparación con los objetivos estándar, ofrece un campo de visión 4x superior y una excelente definición de la imagen, incluso en las zonas periféricas. De esta forma se reduce el tiempo de medición y se logra una precisión excelente.
Sensor de escaneado Zeiss Vast
Más puntos de medición, más información: sensor de escaneado ZEISS VAST XXT.
Con ZEISS VAST XXT, O-INSPECT está equipado con un sensor de contacto flexible, rápido y muy preciso. Este sensor de escaneado captura un número de puntos considerable en un solo paso para facilitar información sobre la forma y la ubicación. Una especialidad en esta clase de máquinas. ZEISS O-INSPECT permite realizar exámenes con fuerzas de muestreo en el rango de los milinewtons, donde otras máquinas de medición multisensor solo pueden realizar mediciones de un solo punto con fuerzas de muestreo relativamente altas. Esto permite obtener mediciones fiables 3D en piezas con corte fina.
Con ZEISS VAST XXT, O-INSPECT está equipado con un sensor de contacto flexible, rápido y muy preciso. Este sensor de escaneado captura un número de puntos considerable en un solo paso para facilitar información sobre la forma y la ubicación. Una especialidad en esta clase de máquinas. ZEISS O-INSPECT permite realizar exámenes con fuerzas de muestreo en el rango de los milinewtons, donde otras máquinas de medición multisensor solo pueden realizar mediciones de un solo punto con fuerzas de muestreo relativamente altas. Esto permite obtener mediciones fiables 3D en piezas con corte fina.
Características del equipo
Objetivo zoom telecéntrico Discovery
Sistema de iluminación adaptativo.
Sensor de escaneado VAST XXT.
Soporte de sondas.
Esfera de calibración.
Sensor de escaneado VAST XXT.
Soporte de sondas.
Esfera de calibración.
Accesorios opcionales
Sensor de distancia de luz blanca.
Mesa giratoria.
Sistema de carga con panel de cristal y panel perforado.
Panel de calibración.
Mesa giratoria.
Sistema de carga con panel de cristal y panel perforado.
Panel de calibración.